PDM系列的光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器模塊都是由Micro Photon Devices(MPD)設(shè)計(jì)和制造的固態(tài)儀器。它們具有良好的光子檢測(cè)效率和定時(shí)分辨率,這是通過使用外延硅單光子雪崩二極管(SPAD)和集成有源淬火電路(iAQC)獲得的。SPAD是為時(shí)間分辨光子計(jì)數(shù)應(yīng)用專門設(shè)計(jì)和優(yōu)化的。
時(shí)序分辨率低至<50 ps(FWHM)
550 nm時(shí)的量子效率49%
不同的有效面積:20、50和100 µm
高計(jì)數(shù)率超穩(wěn)定
時(shí)序分辨率低至50 ps
PDM系列SPAD的檢測(cè)效率PDM系列的SPAD生成兩個(gè)輸出信號(hào)-計(jì)數(shù)輸出(TTL信號(hào))和定時(shí)輸出(NIM信號(hào)),可提供優(yōu)于50 ps(FWHM)的光子定時(shí)分辨率,適用于檢測(cè)波長(zhǎng)。尤其是在470 nm以上,時(shí)間響應(yīng)甚至可以與MCP-PMT媲美,并且使用快速TCSPC電子設(shè)備和合適的短脈沖激光器可以達(dá)到大約50 ps的儀器響應(yīng)功能(IRF)。
不同的有源傳感器區(qū)域
帶有FC / PC光纖耦合器的PDM SPAD SPAD的有效區(qū)域直徑為20、50或100 µm,具有不同的暗計(jì)數(shù)等級(jí),可以提供易于使用的光纖FC / PC連接或zuowei自由光束模塊。PDM SPAD覆蓋約400 nm至1000 nm的光譜范圍,在550 nm的VIS范圍內(nèi)具有高量子效率。它們非常堅(jiān)固,可以承受日光的持續(xù)照射。高量子效率使它們成為熒光相關(guān)光譜(FCS)或熒光壽命成像(FLIM)等單分子應(yīng)用的理想檢測(cè)器,尤其是SPAD輸出即使在計(jì)數(shù)率超過100萬計(jì)數(shù)/秒時(shí)也具有穩(wěn)定的時(shí)序。
光子檢測(cè)效率(典型值,不帶FC連接器)
@ 400nm24%
@550 nm49%
@ 650nm37%
光纖連接器損耗:絕對(duì)值<20%
單光子定時(shí)分辨率
計(jì)數(shù)輸出,TTL信號(hào)(FWHM):250 ps
定時(shí)輸出,NIM信號(hào)(FWHM):低至50 ps,在藍(lán)色/紫外光譜范圍內(nèi)增加
脈沖后概率Max.3%
輸入/輸出
死區(qū)時(shí)間:77 ns(典型值)
輸出信號(hào):TTL用于計(jì)數(shù)輸出,NIM用于定時(shí)輸出
輸出脈沖的上升和下降時(shí)間:在10 pF負(fù)載下<2 ns
輸出脈沖持續(xù)時(shí)間:20 ns(典型值)
門控輸入:TTL控制(低電平門檢測(cè)器關(guān)閉)
電源輸入:連接器標(biāo)準(zhǔn)3.5毫米電源插座
運(yùn)行條件
電源電壓:未穩(wěn)壓的DC,任何值5 V–12 V