產(chǎn)品中心
產(chǎn)品分類(lèi)
產(chǎn)品分類(lèi)
品牌標簽
品牌標簽
單工具解決方案，在一次掃描中結合了四種光學(xué)檢測技術(shù)，可在自動(dòng)缺陷檢測和分類(lèi)中獲得高效率
滿(mǎn)足多個(gè)行業(yè)要求，包括HBLED，高功率射頻電子和玻璃顯示技術(shù)
2英寸晶圓的吞吐量高達40wph，8英寸晶圓的吞吐量高達20wph
用于多種材料的30多個(gè)DOI缺陷分類(lèi)的高級算法
快速，全晶圓粗糙度監測和表面均勻度映射
KLA-Tencor Candela CS20系列光學(xué)表面分析儀（OSA）對半導體和光電材料進(jìn)行高級表面檢測。CS20系列提供了過(guò)程控制并提高了產(chǎn)量，可用于檢查不透明的基板（例如Si，GaAs和InP）以及透明的材料（例如SiC，GaN，藍寶石和玻璃）。
CS20系列采用OSA技術(shù)來(lái)同時(shí)測量散射強度，形貌變化，表面反射率和相移，以自動(dòng)檢測和分類(lèi)不斷增加的關(guān)注缺陷（DOI）庫。OSA檢查技術(shù)結合了散射測定法，橢圓測定法，反射測定法和光學(xué)輪廓測定法的基本原理，以無(wú)損檢查晶片表面的殘留污染，表面和亞表面缺陷，形貌變化和膜厚均勻性。CS20系列的高靈敏度，高通量和多功能性提供了一種經(jīng)濟高效的解決方案，適用于過(guò)程開(kāi)發(fā)和制造過(guò)程控制。
CandelaOSA系統： 鏡面（反射光）
相移
地形
散射光
激光二極管： CS20R-8mW，635nm紅色激光
CS20v-25mW，405nm紫激光
CS20-雙路25mW，405nm X射線(xiàn)
4通道顯微鏡技術(shù)可用于缺陷分析和識別關(guān)鍵任務(wù)缺陷（DOI）
顯示的缺陷包括：SiC三角形缺陷，藍寶石襯底劃痕，SiC多型缺陷，晶片邊緣劃痕和GaN外延坑
自動(dòng)缺陷分類(lèi)軟件可為DOI分類(lèi)提供配方創(chuàng )建
高通量掃描分析可提供摘要報告，包括缺陷圖，日志文件和自動(dòng)通過(guò)/失敗分配
缺陷按大小分類(lèi)并歸類(lèi)為用戶(hù)定義的類(lèi)別，并顯示在Candela缺陷圖上
津公網(wǎng)安備12010102000950號