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Sinton Instruments硅片壽命測試儀WCT-120PL

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產(chǎn)品介紹

WCT-120PL是使用光致發(fā)光傳感器的硅片壽命測試儀。WCT-120PL硅片壽命測試工包含了WCT-120儀器獨(dú)特的測量和分析技術(shù)的同時，又增加了光致發(fā)光(PL) 傳感器，以基于PL信號測試壽命和摻雜水平。準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)導(dǎo)(QSSPC) 壽命測試方法和瞬態(tài)光電導(dǎo)衰減壽命測試方法都增補(bǔ)了校準(zhǔn)的基于PL信號的壽命測試。也可以簡單地將工具作為標(biāo)準(zhǔn)的WCT-120使用。

性能特點(diǎn)
  • 一鍵識別硅片的關(guān)鍵特性
技術(shù)參數(shù)
  • 產(chǎn)地：美國
  • 是否進(jìn)口：是
  • 壽命測量范圍：100 ns至大于10 ms
  • 測量（分析）模式：QSSPC、瞬態(tài)和廣義壽命分析
  • 傳感器區(qū)域：直徑40 mm
  • 保修：所有部件和軟件的一年有限保修
  • 標(biāo)準(zhǔn)：符合SEMI標(biāo)準(zhǔn)PV-13
  • 環(huán)境工作溫度：20°C–25°C
  • 尺寸：寬22.5厘米x深28厘米x高57厘米
  • 通用電源電壓：100–240 VAC 50/60 Hz
產(chǎn)品參數(shù)

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