VFI是世界各地行業(yè)的光子學(xué)公司的理想干涉儀。VFI-2000是一種干涉檢測系統(tǒng),專門用于檢查切割或拋光光纖的表面質(zhì)量和平面度。VFI將高的圖像質(zhì)量與易用性以及我們的客戶對Arden產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)健性結(jié)合,從而實現(xiàn)您可以信賴的光纖端面測量。使用VFI,用戶可以在一系列不同的視圖中查看光纖,包括2D和3D視圖,讓用戶能夠充分了解其切割或拋光過程。因此,它已經(jīng)證明自己非常適合研究、生產(chǎn)或QA環(huán)境。
產(chǎn)地:英國
視野:max.2000µm,帶x1.5、x2、x3和x6數(shù)字變焦
圖像傳感器:1/1.8英寸CMOS陣列,12位,6.4MP
攝像頭傳感器尺寸:3088 x 2076像素,2.4µm平方像素
LED波長:525 nm
可測量解理角(不使用傾斜光纖支架)
2D模式:8°
3D模式:4°
測量時間
2D模式:實時
3D模式:<7 s
高度分辨率:0.01µm
尺寸:240(寬)x 240(深)x 90(高)mm
重量:3 kg
連接到計算機:USB 3.0(USB類型B到USB A;提供1米電纜)
供電:通過USB供電
操作系統(tǒng):支持Windows 7/8/10 64位
計算機要求:4GB RAM;USB 3.0端口;64位
工作溫度:10–30°C
切割機制造
切割機維護
激光制造
光纖研發(fā)、專業(yè)光纖制造
斜角切肉刀的開發(fā)和測試
裝置清管器尾礦
LDF切割機制造/維護
光纖端蓋制造
多光纖束制造