maxLIGHT 采用無(wú)縫設計,可提供光收集量和業(yè)內高效率。經(jīng)像差校正的平場(chǎng)波長(cháng)覆蓋范圍從 1nm 到 200nm,光譜帶寬寬廣,例如每個(gè)光柵可覆蓋 5-80nm 的波長(cháng)。maxLIGHT 具有集成的狹縫支架和濾光片插入裝置,以及電動(dòng)光柵定位裝置。檢測器選項包括用于高分辨率和動(dòng)態(tài)范圍的 XUV CCD,以及用于寬波長(cháng)覆蓋范圍和門(mén)控/增強檢測的 MCP/CMOS 檢測器。采用直接光源成像。因此,無(wú)需狹窄的入口狹縫,可大限度地收集光線(xiàn)。與傳統的光譜儀結構相比,到達光譜儀探測器的光量增加了 20 倍。這種結構還大大提高了日常運行的穩定性。
平場(chǎng)掠入射光譜儀
采用專(zhuān)有的無(wú)狹縫設計,效率高
波長(cháng)范圍從 1 nm到 200 nm
集成示波器
模塊化交鑰匙設計
無(wú)磁、旋轉幾何、偏振等
產(chǎn)地:德國
拓撲結構:像差校正平場(chǎng)光譜儀和光束輪廓儀
光源距離:靈活
探測器:CCD 或 MCP/CMOS
工作壓力:<10-6 mbar(提供 UHV 版本)
無(wú)縫技術(shù):是
入口狹縫:可選
光柵定位:電動(dòng)閉環(huán)
光譜濾波器插入單元:是
控制接口:USB 或以太網(wǎng)
軟件:Windows UI 和 Labview/VB/C/C++ SDK
可定制:完全可定制
波長(cháng)范圍:1-20 nm
色散:0.2-0.4 nm/mm
分辨率:在 10 nm處 <0.015 nm
高次諧波發(fā)生源、阿秒科學(xué)、強激光物質(zhì)相互作用、自由電子激光器、激光和放電產(chǎn)生的等離子體源、X 射線(xiàn)激光器、激光驅動(dòng)的二次光源
專(zhuān)注領(lǐng)域研究 產(chǎn)品供應
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