GL16光纖端面幾何形狀測量儀器使用非常簡單,能夠測量單芯和多芯接頭的端面幾何形狀,并對其成像。它采用非接觸式白光掃描干涉技術(shù)(SWLI),能夠提供高準(zhǔn)確度、高重復(fù)性和高可靠性的光纖接頭測試,尤其適合根據(jù)IEC或Telcordia標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的合格/不合格測試。系統(tǒng)既可以通過觸摸屏進(jìn)行本地控制,又可以通過基于瀏覽器的應(yīng)用程序?qū)嵤┻h(yuǎn)程操作,易于集成到生產(chǎn)車間。
所有系統(tǒng)組件完全集成在封閉的外殼中。寬帶寬570 nm LED光源配合邁克爾遜干涉物鏡使用,測量間隔高度變化高達(dá)35 μm的相移。壓電位移臺相對于接頭移動干涉物鏡,并使用高分辨率相機(jī)收集所產(chǎn)生的干涉圖案。然后生成接頭表面的3D高度圖,并利用2.2 µm的橫向分辨率和1.1 nm的高度分辨率計(jì)算光纖幾何形狀參數(shù)。白光干涉法還能夠表征凹陷或突出的光纖,而這一點(diǎn)在使用單色干涉儀時(shí)可能會被忽略。
附帶的GL16M4 MT型安裝夾具有助于實(shí)現(xiàn)一次8秒測量12芯每行的插芯中max.72根光纖。換出附帶的夾具,GL16還可測量其他光纖類型和接頭類型。請根據(jù)待測接頭類型和光纖數(shù)量在下方選擇合適的安裝組件。